Аннотация:
С помощью метода полевой десорбционной микроскопии исследована десорбция атомов цезия с рениевого полевого эмиттера в электрическом поле. Получена зависимость напряженности десорбирующего электрического поля от степени покрытия поверхности эмиттера атомами цезия. В рамках модели сил зеркального изображения для полевой десорбции проведена оценка теплоты адсорбции атомов цезия в зависимости от поверхностной концентрации цезия и работы выхода поверхности. Науглероживание рениевого эмиттера приводит к изменению характера десорбции и распределения зон десорбции по поверхности эмиттера.