RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2017, том 43, выпуск 16, страницы 9–14 (Mi pjtf6141)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Влияние длины затвора на скорость инжекции электронов в каналах полевых транзисторов на основе AlGaN/AlN/GaN

С. В. Михайлович, Р. Р. Галиев, А. В. Зуев, А. Ю. Павлов, Д. С. Пономарев, Р. А. Хабибуллин

Институт сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники РАН, г. Москва

Аннотация: Исследованы полевые транзисторы с высокой подвижностью электронов (HEMT) на основе AlGaN/AlN/GaN с разной длиной затвора $L_{g}$. Значения максимальных частот усиления по току $f_{\mathrm{T}}$ и однонаправленного коэффициента усиления $f_{\mathrm{max}}$ составили 88 и 155 GHz для транзисторов с $L_{g}$ = 125 nm и 26 и 82 GHz для транзисторов с $L_{g}$ = 360 nm соответственно. На основе измеренных $S$-параметров проведена экстракция значений элементов малосигнальных эквивалентных схем AlGaN/AlN/GaN HEMT и определена зависимость скорости инжекции $v_{inj}$ от напряжения затвор-исток. Также исследовано влияние длины затвора и напряжения между стоком и истоком на величину $v_{inj}$.

Поступила в редакцию: 01.02.2017

DOI: 10.21883/PJTF.2017.16.44927.16727


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2017, 43:8, 733–735

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024