RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2017, том 43, выпуск 16, страницы 87–92 (Mi pjtf6151)

Эта публикация цитируется в 9 статьях

Формирование гексагональной фазы кремния 9$R$ при ионной имплантации

Д. С. Королевa, А. А. Никольскаяa, Н. О. Кривулинa, А. И. Беловa, А. Н. Михайловa, Д. А. Павловa, Д. И. Тетельбаумa, Н. А. Соболевb, M. Kumarc

a Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
c Indian Institute of Technology Jodhpur, Jodhpur, India

Аннотация: С помощью метода просвечивающей электронной микроскопии в приграничном слое кремния структуры SiO$_{2}$/Si, подвергнутой ионной имплантации и термической обработке, обнаружено образование включений гексагонального кремния (политип 9$R$). Образование гексагональной фазы обусловлено механическими напряжениями, возникающими в гетерофазной системе в процессе ионной имплантации.

Поступила в редакцию: 03.05.2017

DOI: 10.21883/PJTF.2017.16.44937.16852


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2017, 43:8, 767–769


© МИАН, 2024