RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2016, том 42, выпуск 17, страницы 70–77 (Mi pjtf6318)

Особенности спектров низкоэнергетических ионов неона, рассеянных от поверхности фосфида галлия

А. Б. Толстогузовab, С. Ф. Белыхc, Г. П. Гололобовb, Д. В. Суворовb

a Centre for Physics and Technological Research (CeFITec), Dept. de Fisica da Faculdade de Ciencias e Tecnologia (FCT), Universidade Nova de Lisboa, Caparica, Portugal
b Рязанский государственный радиотехнический университет
c МАТИ - Российский государственный технологический университет имени К.Э. Циолковского, г. Москва

Аннотация: Методом масс-сепарированного низкоэнергетического ионного рассеяния впервые проведены детальные исследования спектров ионов Ne$^{+}$, рассеянных на угол 120$^\circ$ от поверхности GaP в диапазоне энергий 0.4–1.96 keV. Было обнаружено, что в спектрах, помимо пиков упругих бинарных соударений Ne$^{+}$/P и Ne$^{+}$/Ga, присутствует пик распыленных ионов неона, а также широкий пик (“горб”), энергия которого слабо зависит от энергии первичных ионов, а интенсивность значительно возрастает с ростом этой энергии. По нашему мнению, основной вклад в этот пик дают ионы неона, испытавшие многократные соударения с атомами галлия и фосфора на поверхности и в более глубоких слоях образца и сохранившие заряд за счет процессов реионизации.

Поступила в редакцию: 04.03.2016


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2016, 42:9, 915–918

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024