RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2016, том 42, выпуск 14, страницы 66–71 (Mi pjtf6360)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Квантовые точки InAs/GaAs, выращенные капельным методом в условиях мос-гидридной эпитаксии

М. А. Сурнинаa, Р. Х. Акчуринa, А. А. Мармалюкbc, Т. А. Багаевc, А. Л. Сизовd

a Институт тонких химических технологий им. М.В. Ломоносова
b Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ", г. Москва
c ООО "Сигм Плюс", г. Москва
d Научно-производственное объединение „Орион", Москва

Аннотация: Представлены результаты формирования квантовых точек (КТ) InAs на подложках GaAs (100) капельным методом с использованием в качестве прекурсоров триметилиндия (ТМIn) и арсина (AsH$_{3}$). Процессы роста осуществляли при температурах 230–400$^\circ$C в реакторе установки МОС-гидридной эпитаксии (МОСГЭ) горизонтального типа с использованием высокочистого водорода в качестве газа-носителя. Приведены данные по влиянию температуры процесса на геометрические размеры и плотность массива КТ и результаты исследования низкотемпературной фотолюминесценции полученных образцов.

Поступила в редакцию: 04.03.2016


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2016, 42:7, 747–749

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024