Аннотация:
Предложен поляризационный метод для определения ориентации оптической оси одноосного кристалла $Z$-среза. На примере ниобата лития толщиной 514 $\mu$m показана применимость метода для контроля углов отклонения оптической оси от нормали к поверхности кристалла $\sim$0.01$^\circ$. Рассмотрены особенности практической реализации заявленного метода и пути повышения его точности и быстродействия.