RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2016, том 42, выпуск 8, страницы 78–85 (Mi pjtf6447)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Исследование молекулярного пучка Se электронной ионизацией

А. Н. Завилопуло, О. Б. Шпеник, М. И. Микита, А. М. Мылымко

Институт электронной физики НАН Украины, Ужгород, Украина

Аннотация: Описаны методика и результаты масс-спектрометрических исследований выхода положительных ионов, образованных в результате диссоциативной ионизации молекулярного пучка селена электронной ионизацией. Из кривых эффективности ионизации получены энергии появления фрагментных ионов. Исследована динамика образования молекулярных ионов селена в интервале температур 420–495 K. Проанализированы энергетические зависимости эффективности образования однозарядных Sе$_{n}^{+}$ для $n$ = 1–3 и двухзарядного ионов селена.

Поступила в редакцию: 04.08.2015


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2016, 42:4, 427–430

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024