В. И. Асюнин, С. А. Бушин, С. Г. Давыдов, А. Н. Долгов, А. В. Пилюшенко, А. А. Пшеничный, В. О. Ревазов, Р. Х. Якубов, “Воздействие импульсного вакуумно-дугового разряда на поверхность элементов разрядного устройства”, Письма в ЖТФ, 2016, том 42, выпуск 7,страницы 65

Эта публикация цитируется в 1 статье

Воздействие импульсного вакуумно-дугового разряда на поверхность элементов разрядного устройства

В. И. Асюнин, С. А. Бушин, С. Г. Давыдов, А. Н. Долгов, А. В. Пилюшенко, А. А. Пшеничный, В. О. Ревазов, Р. Х. Якубов

Всероссийский научно-исследовательский институт автоматики им. Н. Л. Духова, г. Москва

Аннотация: Методами визуализации структуры поверхности и рентгенофлуоресцентного элементного микроанализа изучены закономерности эрозии и переноса вещества элементов разрядного устройства. Обнаружено влияние микрорельефа и окисной пленки, присутствующей на поверхности материала катода, на развитие дугового разряда в коммутаторе.

Поступила в редакцию: 30.11.2015