RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2016, том 42, выпуск 5, страницы 81–88 (Mi pjtf6492)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Влияние температурной нестабильности на пороговую чувствительность фотоприемных устройств на основе фотодиодов A$^{3}$B$^{5}$

С. Е. Александров, Г. А. Гаврилов, А. А. Капралов, Г. Ю. Сотникова

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Представлен анализ зависимости чувствительности фотоприемных устройств (ФПУ) на основе фотодиодов A$^{3}$B$^{5}$ от случайных изменений температуры его элементов. Показано, что температурный дрейф уровня смещения во входных цепях операционных усилителей вносит существенный вклад в результирующие шумы ФПУ вплоть до частот порядка 1 MHz. Для достижения предельных значений чувствительности сенсоров необходимо стабилизировать температуру не только чипа фотодиода, но и микросхемы первого каскада усилителя. Для большинства применений требуемая точность стабилизации не превышает $\pm$ 0.1$^\circ$C. Результатом анализа явилась разработка макетов высокочувствительных средневолновых сенсоров (2–5 $\mu$m), работающих без принудительного охлаждения, с порогом детектирования десятки nW при полосе детектирования от 0 до 1 MHz.

Поступила в редакцию: 17.02.2015


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2016, 42:3, 263–266

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024