RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2021, том 47, выпуск 8, страницы 37–40 (Mi pjtf6565)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Влияние состава зародышевого слоя AlGaAs на формирование антифазных доменов в структурах (Al)GaAs, выращенных газофазной эпитаксией на подложках Ge/Si(100)

А. В. Рыковa, Р. Н. Крюковa, И. В. Самарцевa, П. А. Юнинb, В. Г. Шенгуровa, А. В. Зайцевa, Н. В. Байдусьa

a Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, г. Нижний Новгород
b Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород

Аннотация: Исследованы гетероструктуры на основе GaAs, выращенные методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений и гидридов на виртуальных подложках Ge/Si с использованием зародышевого слоя Al$_x$Ga$_{1-x}$As с различным содержанием алюминия $x$ в твердом растворе. Показано влияние $x$ на плотность и размеры антифазных доменов, выходящих на поверхность образцов, и на оптические свойства слоя GaAs. Для роста использованы подложки (100) с небольшим случайным отклонением от номинальной кристаллографической ориентации 0.7$^\circ$ к [110].

Ключевые слова: гетероэпитаксия, А$_3$В$_5$ на кремнии, антифазные дефекты, фотолюминесценция.

Поступила в редакцию: 23.12.2020
Исправленный вариант: 13.01.2021
Принята в печать: 17.01.2021

DOI: 10.21883/PJTF.2021.08.50852.18670


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2021, 47:5, 413–416

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024