RUS
ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ
// Письма в Журнал технической физики
// Архив
Письма в ЖТФ,
1985
, том 11,
выпуск 1,
страницы
41–46
(Mi pjtf739)
Эффект аккумуляции дефектов на поверхности полупроводника вследствие их дрейфа в поле приповерхностного изгиба зон
А. П. Ахоян
,
Н. Е. Корсунская
,
И. В. Маркевич
Институт полупроводников АН УССР, Киев
Поступила в редакцию:
12.07.1984
Полный текст:
PDF файл (578 kB)
Реферативные базы данных:
©
МИАН
, 2024