RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 1985, том 11, выпуск 1, страницы 41–46 (Mi pjtf739)

Эффект аккумуляции дефектов на поверхности полупроводника вследствие их дрейфа в поле приповерхностного изгиба зон

А. П. Ахоян, Н. Е. Корсунская, И. В. Маркевич

Институт полупроводников АН УССР, Киев

Поступила в редакцию: 12.07.1984



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024