RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Прикладная механика и техническая физика // Архив

Прикл. мех. техн. физ., 2001, том 42, выпуск 6, страницы 177–182 (Mi pmtf2859)

Эта публикация цитируется в 8 статьях

Влияние электрического тока на миграцию точечных дефектов у вершины трещины

Д. Н. Карпинский, С. В. Санников

Научно-исследовательский институт механики и прикладной математики при Ростовском государственном университете, 344090 Ростов-на-Дону

Аннотация: Дана оценка влияния постоянного электрического тока на миграцию точечных дефектов, растворенных в кристалле у вершины трещины растяжения. В расчете учитываются пластическая деформация у вершины трещины в нагруженном образце, обусловленная движением дислокаций в плоскостях активного скольжения кристалла, выделение джоулева тепла, а также влияние газообмена на берегах трещины на эволюцию распределения межузельных примесных атомов. Численные расчеты выполнены для кристалла $\alpha$-железа.

УДК: 539.374:539.4.019.3

Поступила в редакцию: 22.02.2000
Принята в печать: 16.05.2001


 Англоязычная версия: Journal of Applied Mechanics and Technical Physics, 2001, 42:6, 1073–1077

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024