Аннотация:
Обосновывается экспериментальный метод измерения многоточечных моментов случайной структуры. Используется просвечивание нескольких фотопластин с черно-прозрачным изображением структуры. При параллельном сдвиге пластин фотометр регистрирует относительное изменение корреляционных функций.