Формализованные модели и методы анализа и оценки полноты патентных информационных фондов (на примере международной патентной организации)

Сформулированы требования к структуре и полноте патентного информационного фонда. Дано определение показателя полноты фонда и предложены формализованные модели и методы ее анализа и оценки. Полученные результаты применены для оценки полноты и совершенствования баз данных патентного информационного фонда международной патентной организации — Евразийского патентного ведомства.