RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1978, том 5, номер 3, страницы 695–698 (Mi qe10043)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Краткие сообщения

Материальная дисперсия в стеклянных волоконных световодах на основе кварцевого стекла

А. В. Беловab, А. Н. Гурьяновab, Е. М. Диановab, В. М. Машинскийab, В. Б. Неуструевab, А. В. Николайчикab, А. С. Юшинab

a Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, Москва
b Институт химии АН СССР, Горький

Аннотация: В диапазоне 0,8–2,6 мкм исследована дисперсия показателя преломления n (λ) в сердцевине (GeO2 + SiO2) и оболочке (SiO2) двухслойной заготовки стеклянного волоконного световода (СВС), а также в кварцевых стеклах КВ, КСГ и КВ70 (безводном). Вычислены спектральные распределения материальной дисперсии (λ /c)(d 2n /dλ 2) и числовой апертуры световодного слоя. Установлено, что нулевая материальная дисперсия в разных образцах чистого SiO2 лежит в пределах 1,26–1,30 мкм, а в GeO2 + SiO2 – при 1,32 мкм. При использовании метода ближнего поля измерено спектральное распределение числовой апертуры СВС, вытянутого из исследованной заготовки, и показано, что материальная дисперсия в СВС и в заготовке одинакова в пределах точности измерений. В области 1,6 мкм, где полные потери в данном образце СВС составляют менее 1 дБ/км, материальная дисперсия равна 24 пс/(нм·км).

УДК: 621.391.029.7

PACS: 42.80.Mv

Поступила в редакцию: 20.10.1977


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1978, 8:3, 410–412


© МИАН, 2024