RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1978, том 5, номер 5, страницы 1151–1154 (Mi qe10212)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Краткие сообщения

Поверхностное разрушение твердых прозрачных диэлектриков лазерным излучением

А. А. Ковалев, Б. И. Макшанцев


Аннотация: Для поверхностного разрушения твердых прозрачных диэлектриков вычислена зависимость пороговой плотности мощности лазерного излучения от диаметра фокального пятна. Расчет проведен в предположении, что указанная зависимость определяется процессом развития тепловой неустойчивости на поглощающих неоднородностях. Полученные результаты позволяют объяснить экспериментальные данные и дают физическую интерпретацию наблюдаемому на эксперименте увеличению величины порога поверхностного пробоя при обработке поверхности диэлектрика.

УДК: 621.375.826

PACS: 61.80.-x, 42.60.He

Поступила в редакцию: 08.09.1977


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1978, 8:5, 659–661


© МИАН, 2024