RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1980, том 7, номер 6, страницы 1242–1251 (Mi qe10273)

Селекция линий $CO_2$-лазера при помощи дифракционного отражающего интерферометра

В. П. Автономов, В. Н. Бельтюгов, Н. Н. Каменев, В. Н. Очкин, Н. Н. Соболев, Ю. В. Троицкий

Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, Москва

Аннотация: Рассмотрена селекция линий генерации $CO_2$-лазера при помощи дифракционной структуры, образованной тонкослойным металлическим покрытием. Найден метод расчета резонатора, содержащего, такую структуру. Показана возможность в значительных пределах изменять соотношение остроты селекции и вносимых в выделяемую линию потерь за счет выбора показателей преломления сред, окружающих структуру, и относительной доли площади, занятой металлом. Показано, что, если металличе­ское покрытие, имеет небольшое (0,1-1%) пропускание, потери, вносимые в резонатор таким отражающим интерферометром, будут меньше потерь хорошего золотого зеркала при сохранении минимальных тепловых эффектов. Проведены экспериментальные исследования $CO_2$-лазера низкого давления с дифракционными структурами в виде решеток из серебра и алюминия. Результаты эксперимента находятся в согласии с теори­ей. Реализовано выделение колебательно-вращательных лазерных переходов без дополни­тельных потерь на рабочем переходе по сравнению с неселективным резонатором. Опи­сан метод экспериментального определения параметров селектора.

УДК: 535.421.621.375

PACS: 42.80.Cj, 42.55.Dk

Поступила в редакцию: 29.10.1979


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1980, 10:6, 712–717

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024