RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1980, том 7, номер 11, страницы 2362–2366 (Mi qe10315)

Влияние изменения толщины волновода на эффективность брэгговской дифракции излучения на решетчатых структурах

Ю. А. Быковский, В. Л. Смирнов, В. Н. Сороковников

Московский инженерно-физический институт

Аннотация: Изучены влияние толщины волновода на эффективность брэгговской дифракции и возможность создания на этой основе высокочувствительных датчиков малых перемещений и тензодатчиков. Показано, что отклонение толщины волновода на 1,8 нм от его первоначального значения 1,1 мкм вызывает 10%-ную модуляцию излучения.

УДК: 621.373.826:621.396

PACS: 42.80.Lt, 07.10.+i

Поступила в редакцию: 12.03.1980


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1980, 10:11, 1376–1378

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024