А. А. Зленко, В. Н. Сороковиков, В. А. Сычугов, Г. П. Шипуло, “Дифракционный метод измерения показателя преломления на поверхности материала”, Квантовая электроника, 5:6 (1978), 1318

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Дифракционный метод измерения показателя преломления на поверхности материала

А. А. Зленко, В. Н. Сороковиков, В. А. Сычугов, Г. П. Шипуло

Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, Москва

Аннотация: Предложен и экспериментально реализован способ определения показателя преломления в поверхностном слое материала толщиной порядка 5,0–10,0 нм. Этим способом проведено определение профиля показателя преломления в тонкопленочных волноводах, полученных методом диффузии в стекле.

УДК: 621.372.8.09

PACS: 07.60.Hv, 42.80.Lt

Поступила в редакцию: 05.07.1977