RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1978, том 5, номер 6, страницы 1323–1328 (Mi qe10392)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Экспериментальное определение эффективной толщины диффузионных волноводов

Н. М. Лындин, А. М. Прохоров, А. А. Спихальский, В. А. Сычугов, А. В. Тищенко, Г. П. Шипуло

Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, Москва

Аннотация: Предложен простой метод измерения эффективной толщины диффузионных волноводов с произвольным распределением показателя преломления n (x). Измеряемая эффективная толщина волновода определяется величиной поля моды на его границе. Экспериментально найдены эффективные толщины волноводов в стекле, полученных диффузией ионов Ag+, сопоставлены различные методы определения эффективной толщины диффузионных волноводов.

УДК: 621.372.8.09

PACS: 42.80.Lt, 07.60.-j

Поступила в редакцию: 05.07.1977


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1978, 8:6, 754–757


© МИАН, 2024