Перестройка частоты генерации газоразрядного $XeCl$-лазера

С помощью дифракционной решетки исследовалось сужение линии генерации и перестройка частоты $XeCl$-лазера. Изучались две схемы резонатора, в которых решетка была в автоколлимационном режиме и в режиме скользящего падения. Получены ши­рина линии генерации уже 0,02 нм и перестройка около линий 308,0 и 308,2 нм.