RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1975, том 2, номер 5, страницы 946–954 (Mi qe11165)

Об использовании импульсного электронно-оптического ультрамикроскопа с предельной чувствительностью для изучения включений в прозрачных конденсированных средах

Р. К. Леонов, Г. И. Брюхневич, Б. М. Степанов, Н. Ф. Таурин, П. А. Ямпольский

Всесоюзный научно-исследовательский институт оптико-физических измерений

Аннотация: С помощью импульсного ультрамикроскопа, использующего рубиновый лазер в качестве источника освещения, зарегистрирован конус Тиндаля в образцах стекла К-8, создаваемый отдельными рассеивающими включениями. Показано, что их концентрация составляет ~1011 см–3, а максимальный размер ~2·10–5 см. Описана модификация ультрамикроскопа, основанная на использовании многокаскадного ЭОП (совместно с фотопленкой) для фотографической регистрации включений. Такой прибор при длительности регистрации ≤ 10–3 с может обеспечить бесшумовую регистрацию включений, рассеивающих единичные фотоны. Рассмотрены основные требования к наблюдательному микроскопу, с помощью которого может быть обеспечена предельная чувствительность ультрамикроскопа. Отмечены возможность использования прибора для изучения микроструктуры оптических материалов и роль поглощающих включений в световом разрушении диэлектриков.

УДК: 539.24

PACS: 42.78.T

Поступила в редакцию: 06.06.1974
Исправленный вариант: 25.09.1974


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1975, 5:5, 514–519


© МИАН, 2024