Всесоюзный научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, Москва
Аннотация:
Предложен метод регистрации пространственно-временных характеристик оптического излучения с использованием тонкой магнитной пленки, просвечиваемой поляризованным излучением видимого диапазона, и
с регистрацией прошедшего через нее и анализатор излучения приемником излучения видимого диапазона. Анализ, проведенный для пленок MnBi, показал, что имеет место увеличение чувствительности и числа разрешимых градаций. Экспериментальная проверка подтвердила полученные выводы.