RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1998, том 25, номер 1, страницы 41–44 (Mi qe1133)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Воздействие лазерного излучения на вещество. Лазерная плазма

Рефракция зондирующей электромагнитной волны в лазерной плазме

Г. С. Саркисов

Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, г. Москва

Аннотация: Предложен и реализован в экспериментах с лазерной плазмой метод восстановления угла рефракции зондирующего электромагнитного излучения по интерферограмме с визуализацией поля. Восстановление угла рефракции заключается в определении частных производных интерференционного набега фазы ∂δ/∂x и ∂δ/∂y в каждой точке восстановленного из интерферограммы волнового фронта. В качестве примера приведена обработка интерферограммы лазерной плазмы, полученной при облучении алюминиевой мишени импульсом мощного Nd:YAG-лазера с длительностью 2 нс, энергией 25 Дж и длиной волны 527 нм (интенсивность на поверхности мишени ~1014 Вт/см2). Угол рефракции зондирующего излучения достигал ~3°, а максимальная электронная плотность плазмы составила ~2.6·1020 см–3. Предлагаемая методика восстановления угла рефракции позволяет визуализировать структуру неоднородности исследуемого объекта и получить однозначный ответ на вопрос о причине возникновения «зоны непрозрачности», наблюдаемой в экспериментах с лазерной плазмой и Z-пинчами.Ключевые слова: лазерная плазма, рефракция, лазерное зондирование.

PACS: 52.70.Kz, 52.25.-b, 42.62.Eh

Поступила в редакцию: 12.09.1997


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 1998, 28:1, 38–41

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024