Е. М. Дианов, А. Я. Карасик, Л. С. Корниенко, А. М. Прохоров, И. А. Щербаков, “Измерение сечения генерационного перехода в неодимовых стеклах”, Квантовая электроника, 2:8 (1975), 1665

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Измерение сечения генерационного перехода в неодимовых стеклах

Е. М. Дианов, А. Я. Карасик, Л. С. Корниенко, А. М. Прохоров, И. А. Щербаков

Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР

Аннотация: Измерены коэффициенты Эйнштейна для спонтанных переходов с метаcтабильного состояния Nd³⁺ ⁴F_3/2 на все уровни основного мультиплета ⁴I в целом ряде силикатных и фосфатных стекол. Определены сечения генерационного перехода ⁴F_3/2→⁴I_11/2. Показано, что описанные в литературе спектроскопические методики измерения этих величин могут приводить к принципиальным и неконтролируемым ошибкам.

УДК: 535.2

PACS: 42.60.G

Поступила в редакцию: 06.01.1975