RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1976, том 3, номер 8, страницы 1814–1816 (Mi qe11804)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Краткие сообщения

Мера дефектности поверхности и оптическая прочность прозрачных диэлектриков

А. С. Бебчук, Д. А. Громов, В. С. Нечитайло


Аннотация: Исследовано влияние дефектов поверхности прозрачных диэлектриков на их оптическую прочность с помощью искусственно введенных поглощающих включений. Показано, что оптическая прочность поверхности определяется в основном не ее рельефом, а наличием дефектного приповерхностного слоя. Установлено, что в пластичных материалах, в отличие от хрупких, мера дефектности поверхности, определяемая как отношение объемной прочности к поверхностной, меньше единицы.

УДК: 621.378.32:539.2

PACS: 77.90.+k, 78.50.-w

Поступила в редакцию: 19.12.1975


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1976, 6:8, 986–987


© МИАН, 2024