RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1976, том 3, номер 10, страницы 2297–2300 (Mi qe11970)

Краткие сообщения

Интерферометр для контроля фазовых изменений регистрирующих сред

С. Г. Баев, В. П. Коронкевич, В. И. Наливайко, В. А. Ханов

Институт автоматики и электрометрии СО АН СССР, Новосибирск

Аннотация: Описана методика автоматического контроля локальных фазовых изменений регистрирующих материалов, предназначенных для записи оптической информации. Использование двухчастотного Не–Ne-лазера (λ = 0,63 мкм) позволило повысить точность измерения и проводить исследование поведения показателя преломления материалов в процессе экспонирования. С помощью предложенной методики были проведены исследования фотоструктурных превращений в стеклообразных халькогенидных полупроводниках.

УДК: 535.854

PACS: 07.40.+a, 42.60.Qm, 78.20.Dj

Поступила в редакцию: 12.04.1976


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1976, 6:10, 1254–1256


© МИАН, 2024