Дифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излучения

С целью применения дифракционных структур для измерения характеристик лазерного излучения проведено исследование дифракции этого излучения на редких проволочных решетках, включая случаи непериодического расположения проводников. Теоретическое рассмотрение выполнено в приближении однократного рассеяния падающего излучения дифракционно не взаимодействующими элементами редких решеток. Подробно изучена дифракция Френеля, при которой обнаружено новое свойство – отображение при определенных параметрах решеток диаграммы направленности падающего пучка, что позволяет упростить существующие схемы измерения характеристик излучения и увеличить диапазон измеряемых величин. Показано, что неэквидистантная решетка, обладающая указанным свойством, вносит меньше искажений в прошедший пучок при дифракции Френеля, чем периодическая. Исследована поляризационная зависимость рассеянного поля, позволяющая применять данные ответвители для определения направления поляризации.