А. В. Миронос, А. И. Маймистов, В. Л. Смирнов, “Анализ записи амплитудно-фазовых голографических дифракционных решеток на пленках халькогенидных стекол”, Квантовая электроника, 9:4 (1982), 777

Краткие сообщения

Анализ записи амплитудно-фазовых голографических дифракционных решеток на пленках халькогенидных стекол

А. В. Миронос, А. И. Маймистов, В. Л. Смирнов

Московский инженерно-физический институт

Аннотация: Экспериментально продемонстрирована возможность записи фазовых голограмм на пленках халькогенидных стеклообразных полупроводников. Дана интерпретация полученных результатов на основе двухуровневой модели.

УДК: 778.38

PACS: 42.40.Ht, 42.80.Fn

Поступила в редакцию: 03.06.1981