RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1977, том 4, номер 8, страницы 1771–1778 (Mi qe12708)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Получение количественной информации о параметрах линий поглощения в методе внутрирезонаторной спектроскопии

А. П. Годлевский, В. П. Лопасов, С. Ф. Лукьяненко

Институт оптики атмосферы СО АН СССР, Томск

Аннотация: Предлагается метод определения параметров линий поглощения (ЛП), исследуемых с помощью селективного внутрирезонаторного спектрометра на основе импульсного лазера с однородным спектральным уширением. Обработка ведется по интегральным во времени спектрам генерации лазера. Метод позволяет определять ширину и форму исследуемой ЛП без привлечения дополнительно информации о параметрах лазера. Показано, что для определения коэффициента поглощения в максимуме линии необходимо знать отношение коэффициента постоянных (частотно-независимых) потерь к квадрату полуширины линии усиления, которое определяется в результате простой калибровки с помощью ЛП с известными параметрами.

УДК: 535.338.332:621.378.325

PACS: 07.65.Eh, 42.60.Kg

Поступила в редакцию: 26.08.1976


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1977, 7:8, 1004–1008


© МИАН, 2024