RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1977, том 4, номер 9, страницы 2025–2029 (Mi qe12827)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Краткие сообщения

Исследование тонкопленочного решеточного фильтра при наклонном падении излучения

Л. И. Баранова, В. Н. Лукьянов, А. Т. Семенов, Н. В. Шелков, С. Д. Якубович

Всесоюзный научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, Москва

Аннотация: Проведены экспериментальные измерения и расчет основных характеристик отражательного оптического фильтра, представляющего собой участок волновода с дифракционной решеткой на поверхности, причем ее период выбирался таким образом, чтобы проекция волнового вектора падающего излучения на нормаль к решетке была равна половине вектора обратной решетки. При падении излучения под углом 45°, точно соответствующим условию Брегга, получен коэффициент отражения 94%. Угловая селекция лучше 5'.

УДК: 621.372.8.09

PACS: 42.80.Cj

Поступила в редакцию: 09.03.1977


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1977, 7:9, 1158–1160


© МИАН, 2024