RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2006, том 36, номер 11, страницы 990–1002 (Mi qe13338)

Эта публикация цитируется в 20 статьях

Специальный выпуск, посвященный многократному рассеянию излучения в случайно-неоднородных средах

Численное моделирование когерентного обратного рассеяния и временных корреляций интенсивности в случайно-неоднородных средах (обзор)

В. Л. Кузьминa, И. В. Меглинскийbc

a Санкт-Петербургский торгово-экономический институт
b Саратовский государственный университет имени Н. Г. Чернышевского, физический факультет
c Cranfield Health, Cranfield University, UK

Аннотация: Представлен обзор работ по численному моделированию когерентных эффектов в случайных средах, осуществляемому с использованием точных аналитических результатов. Процедура моделирования основана на сопоставлении метода Монте-Карло и итерационного решения уравнения Бете–Солпитера. Описаны результаты расчетов временной корреляционной функции и интерференционной составляющей когерентного обратного рассеяния для скалярного и электромагнитного полей. Результаты моделирования впервые сравниваются с известными обобщениями решения Милна и находятся в хорошем согласии с экспериментальными данными. Впервые рассчитана интерференционная составляющая обратного рассеяния низкокогерентного излучения. Описан эффект локализации обратного рассеяния низкокогерентного лазерного излучения по глубине проникновения. Теория и численное моделирование в согласии с экспериментом предсказывают значительное уширение пика обратного рассеяния с уменьшением длины когерентности, что открывает принципиально новые возможности использования данного эффекта, в особенности в задачах биомедицинской диагностики.

PACS: 42.25.Dd, 42.25.Fx, 42.25.Kb, 42.30.Wb

Поступила в редакцию: 23.06.2006
Исправленный вариант: 12.09.2006


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2006, 36:11, 990–1002

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024