RUS
ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ
// Квантовая электроника
// Архив
Квантовая электроника,
1998
, том 25,
номер 9,
страницы
838–842
(Mi qe1334)
Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники
Определение параметров микрообъекта по комплексному отклику дифференциального микроскопа
Д. В. Баранов
,
А. А. Егоров
,
Е. М. Золотов
,
К. К. Свидзинский
Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, г. Москва
Аннотация:
На основе анализа амплитуды и фазы комплексного отклика гетеродинного дифференциального микроскопа экспериментально продемонстрирована возможность определения параметров составного микрообъекта в виде комбинации ступеньки и канавки.
PACS:
07.60.Pb
,
42.30.Va
Поступила в редакцию:
16.09.1997
Полный текст:
PDF файл (201 kB)
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 1998,
28
:9,
817–820
Реферативные базы данных:
©
МИАН
, 2025