RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1998, том 25, номер 9, страницы 838–842 (Mi qe1334)

Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники

Определение параметров микрообъекта по комплексному отклику дифференциального микроскопа

Д. В. Баранов, А. А. Егоров, Е. М. Золотов, К. К. Свидзинский

Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, г. Москва

Аннотация: На основе анализа амплитуды и фазы комплексного отклика гетеродинного дифференциального микроскопа экспериментально продемонстрирована возможность определения параметров составного микрообъекта в виде комбинации ступеньки и канавки.

PACS: 07.60.Pb, 42.30.Va

Поступила в редакцию: 16.09.1997


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 1998, 28:9, 817–820

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024