RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1999, том 26, номер 1, страницы 9–10 (Mi qe1402)

Эта публикация цитируется в 40 статьях

Письма в редакцию

Алмазная дифракционная оптика для СО2-лазеров

В. В. Кононенкоa, В. И. Коновa, С. М. Пименовa, A. М. Прохоровa, В. С. Павельевb, В. А. Сойферb

a Центр естественно-научных исследований Института общей физики РАН, Москва
b Институт систем обработки изображений РАН - филиал ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Самара, Россия, г. Самара

Аннотация: Предложен и реализован метод лазерного формирования фазового микрорельефа алмазных дифракционных оптических элементов (ДОЭ) для дальнего ИК диапазона. Для излучения СО2-лазера (λ = 10.6 мкм) создан одномерный ДОЭ — цилиндрическая линза с апертурой 4 × 4 мм и фокусным расстоянием 25 мм. Микроструктурирование поверхности осуществлялось селективным абляционным травлением алмаза излучением эксимерного KrF-лазера (λ = 248 нм). Измерены распределение интенсивности поля в фокальной области линзы, глубина фокуса и дифракционная эффективность ДОЭ. Отмечена высокая степень корреляции между экспериментальными характеристиками элемента и результатами компьютерного моделирования.

PACS: 42.79.Bh, 42.55.Lt, 42.60.By

Поступила в редакцию: 26.11.1998


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 1999, 29:1, 9–10

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024