RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2010, том 40, номер 5, страницы 411–417 (Mi qe14319)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Рассеяние света, прохождение излучения через атмосферу

Влияние рассеяния на предельную глубину визуализации в методе двухфотонной флуоресцентной микроскопии

Е. А. Сергеева

Институт прикладной физики РАН, г. Нижний Новгород

Аннотация: На основе теоретической модели распространения сфокусированного пучка света в сильно рассеивающей среде обсуждаются различные факторы, ограничивающие возможности двухфотонной флуоресцентной микроскопии (ДФМ) для наблюдения глубинной структуры оптически толстых образцов биологических тканей. Выделены три основные причины ограничения глубины наблюдения методом ДФМ: 1) размытие пучка в результате многократного малоуглового рассеяния, приводящее к потере субмикронного поперечного разрешения; 2) избыточная засветка приповерхностной области объекта, возникающая при наблюдении глубоко расположенных структур в результате увеличения средней мощности источника для компенсации потерь из-за рассеяния; 3) снижение уровня полезного сигнала двухфотонной флуоресценции из-за экспоненциального ослабления мощности накачки. Влияние указанных факторов было рассмотрено в рамках малоуглового диффузионного приближения теории переноса излучения. Показано, что первые два ограничения определяют фундаментальный предел ДФМ, в то время как последнее ограничение является инструментальным пределом и представляется наиболее критичным в современных коммерческих установках лазерной сканирующей микроскопии для подавляющего большинства используемых флуорофоров.

PACS: 42.25.Fx, 33.50.-j, 07.05.Pj

Поступила в редакцию: 26.02.2010
Исправленный вариант: 08.04.2010


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2010, 40:5, 411–417

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024