RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2011, том 41, номер 2, страницы 99–102 (Mi qe14516)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Лазеры

Оценка надежности гетеролазеров при их старении в процессе облучения потоком быстрых частиц

А. П. Богатовa, А. А. Кочетковb, В. П. Коняевb

a Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, г. Москва
b ФГУП «НИИ "Полюс" им. М. Ф. Стельмаха», г. Москва

Аннотация: Приведены расчетные соотношения для оценки надежности гетеролазеров при их работе в условиях облучения, основанные на вероятностном анализе. В качестве физической причины выхода из строя приборов рассматривается накопление дефектов в их активной области.

PACS: 42.55.Px, 42.60.Lh, 94.20.wq

Поступила в редакцию: 07.12.2010


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2011, 41:2, 99–102

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024