RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2011, том 41, номер 4, страницы 318–323 (Mi qe14594)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Оптические технологии в биофизике и медицине

Применение конфокальной лазерной микроскопии для контроля сеточных имплантатов в герниологии

В. П. Захаровa, В. И. Белоконевb, И. А. Братченкоa, П. Е. Тимченкоa, Ю. В. Пономареваb, А. В. Вавиловb, Л. Т. Воловаb

a Самарский национальный исследовательский университет имени академика С. П. Королева
b Самарский государственный медицинский университет

Аннотация: Методом лазерной конфокальной микроскопии исследовано состояние поверхности сеточных имплантатов и зоны их инкапсуляции в герниологии. Экспериментально показана корреляция между вероятностью развития рецидивов и размерами и плотностью микродефектов имплантата. На основании модельных численных экспериментов установлены границы применимости метода дифференциального обратного рассеяния для мониторинга послеоперационного состояния имплантата и прилегающих тканей.

PACS: 42.62.Be, 87.64.mk, 87.85.-d

Поступила в редакцию: 25.02.2011


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2011, 41:4, 318–323

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024