А. И. Трикшев, А. С. Курков, В. Б. Цветков, Ю. Н. Пырков, В. Н. Парамонов, “Измерение ширины линии излучения одночастотного полупроводникового лазера с использованием кольцевого волоконного интерферометра”, Квантовая электроника, 41:7 (2011), 656

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Лазерная спектроскопия

Измерение ширины линии излучения одночастотного полупроводникового лазера с использованием кольцевого волоконного интерферометра

А. И. Трикшев^a, А. С. Курков^a, В. Б. Цветков^a, Ю. Н. Пырков^a, В. Н. Парамонов^b

^a Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, г. Москва
^b Научный центр волоконной оптики РАН, г. Москва

Аннотация: Реализован простой сканирующий интерферометр для измерения ширины линии излучения одночастотных полупроводниковых лазеров. Область свободной дисперсии интерферометра составляет 28 МГц, спектральное разрешение — 470 кГц.

PACS: 42.55.Px, 42.60.Da, 07.60.Vg, 07.60.Ly

Поступила в редакцию: 30.03.2011