RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2011, том 41, номер 10, страницы 934–938 (Mi qe14633)

Интерферометрия

Повышение чувствительности измерений при формировании сдвиговых интерферограмм прозрачных пластин малой остаточной клиновидности

А. И. Буть, А. М. Ляликов

Гродненский государственный университет им. Я. Купалы

Аннотация: Предложена методика повышения чувствительности измерений углов клина прозрачных пластин, основанная на формировании их голографических сдвиговых интерферограмм при сочетании разворота пластины и поочередной настройки интерферограмм в ее изображениях на бесконечно широкую полосу. Повышение чувствительности измерений достигается за счет увеличения количества интерференционных полос в формируемых изображениях клиновидной пластины, что способствует уменьшению погрешности измерений при оптической обработке формируемых интерферограмм. Приведены экспериментальные результаты апробации предложенной методики.

PACS: 42.87.Bg, 42.40.Kw

Поступила в редакцию: 20.04.2011


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2011, 41:10, 934–938

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024