Аннотация:
Описана усовершенствованная слэтеровская модель среднего иона, используемая при расчетно-теоретическом анализе экспериментальных данных, которые были получены при исследовании спектральных пробегов рентгеновского излучения, ведущихся в РФЯЦ-ВНИИЭФ на лазерной установке "Искра-5". Предлагаемая модель позволяет определять спектральные характеристики рентгеновского излучения с точностью до единиц электронвольт. Приведены результаты моделирования экспериментов с нагретыми рентгеновским излучением алюминиевыми и германиевыми образцами с начальной толщиной ~0.1 мкм, в которых зарегистрированы линии поглощения 1s—2p-переходов в Al и полоса поглощения 2p—3d-переходов в Ge.
PACS:52.50.Jm, 52.38.Dx, 52.38.Ph
Поступила в редакцию: 03.05.2011 Исправленный вариант: 11.08.2011