RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2013, том 43, номер 3, страницы 282–287 (Mi qe15136)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Экстремальные световые поля и их приложения

Фононная спектроскопия структуры оксидных кристаллокерамик

А. А. Каминскийa, А. В. Тарановb, Е. Н. Хазановb

a Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН, г. Москва
b Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН, г. Москва

Аннотация: Описан метод исследования особенностей структуры и фононного спектра оксидных поликристаллических керамик. Установлена связь величины коэффициента диффузии фононов с субтерагерцевыми частотами со свойствами системы межзеренных границ, размером и структурой зерен. Показано, что при гелиевых температурах зависимость коэффициента диффузии фононов от температуры определяется спектральными свойствами межзеренного слоя, что позволяет оценить средние по объему образца значения его толщины и акустического импеданса. Проанализировано влияние процессов пластической деформации двойникованием на формирование структуры зерен и межзеренных слоев, определяющих теплофизические, акустические и оптические характеристики керамического материала.

Ключевые слова: оксидная керамика, фононы, межзеренная граница, двойникование.

PACS: 81.05.Je, 72.10.Fk, 63.20.kp

Поступила в редакцию: 24.12.2012
Исправленный вариант: 06.02.2013


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2013, 43:3, 282–287

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024