RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2013, том 43, номер 10, страницы 949–957 (Mi qe15187)

Эта публикация цитируется в 14 статьях

Оптические поля

Продольные корреляционные свойства оптического поля с широкими угловым и частотным спектрами и их проявление в интерференционной микроскопии

Д. В. Лякинab, В. П. Рябухоab

a Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского
b Институт проблем точной механики и управления РАН, г. Саратов

Аннотация: Представлены результаты теоретических и экспериментальных исследований продольных корреляционных свойств оптического поля с широкими угловым и частотным спектрами и проявления этих свойств в интерференционной микроскопии. Показано совместное и конкурирующее влияние углового и частотного спектров зондирующего объект поля на продольное разрешение и амплитуду сигналов интерференционного микроскопа от границ раздела сред в толще слоистого объекта. Экспериментально продемонстрирован способ компенсации так называемого эффекта дефокусировки, возникающего в интерференционной микроскопии в случае применения объективов с большой числовой апертурой, путем использования в качестве источника света для интерференционного микроскопа освещающего интерферометра с частотно-широкополосным источником света. Данный способ компенсации может быть положен в основу одновременного определения и геометрической толщины, и показателя преломления сред слоистого микрообъекта.

Ключевые слова: интерференционная микроскопия, частотно-широкополосные источники света, продольные корреляционные свойства оптического поля.

PACS: 42.25.Hz, 42.30.-d, 42.87.-d

Поступила в редакцию: 28.03.2013


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2013, 43:10, 949–957

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024