Аннотация:
Представлены результаты теоретических и экспериментальных исследований продольных корреляционных свойств оптического поля с широкими угловым и частотным спектрами и проявления этих свойств в интерференционной микроскопии. Показано совместное и конкурирующее влияние углового и частотного спектров зондирующего объект поля на продольное разрешение и амплитуду сигналов интерференционного микроскопа от границ раздела сред в толще слоистого объекта. Экспериментально продемонстрирован способ компенсации так называемого эффекта дефокусировки, возникающего в интерференционной микроскопии в случае применения объективов с большой числовой апертурой, путем использования в качестве источника света для интерференционного микроскопа освещающего интерферометра с частотно-широкополосным источником света. Данный способ компенсации может быть положен в основу одновременного определения и геометрической толщины, и показателя преломления сред слоистого микрообъекта.
Ключевые слова:интерференционная микроскопия, частотно-широкополосные источники света, продольные корреляционные свойства оптического поля.