RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2013, том 43, номер 12, страницы 1149–1153 (Mi qe15272)

Эта публикация цитируется в 21 статьях

Волоконная и интегральная оптика

Определение показателя преломления, коэффициента экстинкции и толщины тонких пленок методом возбуждения волноводных мод

В. И. Соколов, Н. В. Марусин, В. Я. Панченко, А. Г. Савельев, В. Н. Семиногов, Е. В. Хайдуков

Институт проблем лазерных и информационных технологий РАН, г. Шатура, Московская обл.

Аннотация: Предложен метод одновременного измерения показателя преломления nf, коэффициента экстинкции mf и толщины Hf тонких пленок. В основе метода лежит резонансное возбуждение волноводных мод в пленке TE или TM поляризованным лазерным пучком в геометрии нарушенного полного внутреннего отражения. Значения nf, mf и Hf находят путем минимизации функционала φ =[N-1ΣNi=1(Rexpi) – Rthri))2]1/2, где Rexpi) и Rthri) – экспериментально измеренный и теоретически рассчитанный коэффициенты отражения светового пучка от границы между измерительной призмой и пленкой при угле падения θi. Погрешности определения nf, mf и Hf данным методом составляют ±2×10-4, ±1×10-3 и ±0.5 % соответственно.

Ключевые слова: тонкие пленки, метод возбуждения волноводных мод.

PACS: 42.82.-m, 78.66.-w

Поступила в редакцию: 08.07.2013


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2013, 43:12, 1149–1153

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024