Низкокогерентная интерферометрия как метод оценки транспортных параметров случайно-неоднородных сред

Обсуждаются особенности применения низкокогерентного интерферометрического зондирования слоев случайно-неоднородных сред для определения транспортной длины распространения излучения как в диффузионном режиме, так и в случае оптически тонких слоев. Транспортная длина определяется по скорости экспоненциального спада интерференционного сигнала при увеличении разности хода световых пучков в опорном плече низкокогерентного интерферометра и в объектном плече, содержащем зондируемый слой в качестве диффузного отражателя. Представлены результаты экспериментальной проверки обсуждаемого подхода с использованием слоев плотноупакованных наночастиц двуокиси титана и политетрафторэтилена.