Определение толщины нанопленки с помощью резонансных частот

Теоретически исследовано взаимодействие монохроматического лазерного излучения с тонкой металлической пленкой. Получены зависимости коэффициентов прохождения, отражения и поглощения электромагнитной волны от угла падения, толщины слоя и эффективной частоты столкновений электронов. В области резонансных частот проведен анализ этих коэффициентов. Полученные формулы для коэффициентов прохождения, отражения и поглощения справедливы для любых углов падения. Рассмотрен случай зеркальных граничных условий. Выведена формула для бесконтактного вычисления толщины пленки по наблюдаемым резонансным частотам.