А. К. Верещагин, Н. С. Воробьев, П. Б. Горностаев, В. Л. Дорохов, С. С. Крюков, В. И. Лозовой, О. И. Мешков, Д. А. Никифоров, А. В. Смирнов, Е. В. Шашков, М. Я. Щелев, “Регистрация синхротронного излучения пикосекундной стрик-камерой для диагностики пучков в циклических ускорителях”, Квантовая электроника, 46:2 (2016), 185

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Акустооптика

Регистрация синхротронного излучения пикосекундной стрик-камерой для диагностики пучков в циклических ускорителях

А. К. Верещагин^a, Н. С. Воробьев^a, П. Б. Горностаев^a, В. Л. Дорохов^b, С. С. Крюков^a, В. И. Лозовой^a, О. И. Мешков^cb, Д. А. Никифоров^b, А. В. Смирнов^a, Е. В. Шашков^a, М. Я. Щелев^a

^a Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук, г. Москва
^b Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН, г. Новосибирск
^c Новосибирский национальный исследовательский государственный университет

Аннотация: С помощью пикосекундной электронно-оптической камеры с линейной разверткой (стрик-камера) модели PS-1/S1 измерены временные параметры импульсов синхротронного излучения на накопителе-охладителе (НО) в Институте ядерной физики (ИЯФ) СО РАН (Новосибирск). Полученные данные позволяют судить о процессах формирования электронных сгустков и их "качестве" в НО после инжекции из линейного ускорителя. Показана целесообразность применения стрик-камер в составе оптического диагностического комплекса ускорителя для настройки инжекции из линейного ускорителя. Обсуждается вопрос о создании диссектора нового поколения с временным разрешением до единиц пикосекунд, с помощью которого будет осуществляться непрерывный мониторинг сгустков в НО при совместной работе с электрон-позитронными коллайдерами ИЯФ.

Ключевые слова: стрик-камера, диссектор, синхротронное излучение, оптическая диагностика.

Поступила в редакцию: 10.07.2015
Исправленный вариант: 13.11.2015