Д. В. Гузатов, В. В. Климов, “Влияние димера наночастиц на ширину линии запрещенных E2-переходов”, Квантовая электроника, 46:7 (2016), 634

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Нанооптика

Влияние димера наночастиц на ширину линии запрещенных E2-переходов

Д. В. Гузатов^a, В. В. Климов^bcd

^a Гродненский государственный университет им. Я. Купалы
^b Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, г. Москва
^c Национальный исследовательский ядерный университет (МИФИ)
^d Всероссийский научно-исследовательский институт автоматики им. Н. Л. Духова, г. Москва

Аннотация: В рамках классической электродинамики получены и исследованы аналитические выражения для радиационной ширины линии запрещенных E2-переходов в атоме, расположенном вблизи димера сферических частиц. Показано, что состав вещества частиц, их расположение и размер оказывают существенное влияние на ширину линии E2-перехода в атоме. Выявлено, что в зазоре между металлическими сферическими наночастицами ширина линии E2-переходов в атоме может принимать существенно бóльшие значения, чем в случае атома вблизи одной металлической наночастицы.

Ключевые слова: ширина линии, запрещенный E2-переход, димер сферических частиц.

Поступила в редакцию: 12.04.2016