RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2016, том 46, номер 11, страницы 1015–1022 (Mi qe16502)

Эта публикация цитируется в 7 статьях

Воздействие лазерного излучения на вещество

Поверхностные, структурные и механические свойства циркония после абляции его излучением эксимерного KrF-лазера

Нисар Алиabc, Умм-и-Калсумbcd, Шазия Баширb, Нарджис Бегуммадe, Сайед Вагас Ахмадa

a Department of Basic Sciences and Humanities, University of Engineering and Technology Lahore, Faisalabad Campus, Pakistan
b Centre for Advanced Studies in Physics, GC University Lahore, Pakistan
c Department of Physics, GC University Lahore, Pakistan
d Department of Physics, Riphah International University Islamabad, Lahore Campus, Pakistan
e Department of Physics, COMSATS Institute of Information Technology, Islamabad, Pakistan

Аннотация: Исследовано влияние окружающей среды – газа (воздух) и жидкости (пропанол) – на поверхностные, структурные и механические свойства образцов циркония после воздействия на них излучения эксимерного KrF-лазера (длина волны 248 нм, длительность импульсов 20 нс, частота их следования 20 Гц). Образцы подвергались воздействию различного числа лазерных импульсов, от 500 до 2000, в обеих средах. Различные характеристики обрабатываемых мишеней (морфология поверхности, химический состав, кристаллическая структура и твердость) анализировались дополняющими друг друга методами, такими как сканирующая электронная микроскопия, энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия, спектроскопия комбинационного рассеяния, а также с использованием твердомера Виккерса. Объяснение морфологии поверхности и твердости дано на основе анализа кристалличности, остаточных напряжений и химических изменений на поверхности образца после его облучения.

Ключевые слова: цирконий, лазерная абляция, окружающая среда, морфология поверхности, кристалличность, твердость.

Поступила в редакцию: 14.08.2016
Исправленный вариант: 09.09.2016


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2016, 46:11, 1015–1022

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024