RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2017, том 47, номер 1, страницы 54–57 (Mi qe16546)

Эта публикация цитируется в 11 статьях

Рентгеновская оптика

Изображающий дифракционный VLS-спектрометр для области длин волн λ > 120 Å

Е. А. Вишняковa, А. О. Колесниковab, А. А. Кузинbc, Д. В. Негровb, Е. Н. Рагозинab, П. В. Сасоровd, А. Н. Шатохинab

a Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, г. Москва
b Московский физико-технический институт (государственный университет), г. Долгопрудный Московской обл.
c Институт спектроскопии РАН, г. Троицк
d Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша Российской академии наук, г. Москва

Аннотация: Экспериментально реализован широкополосный стигматический (изображающий) спектрометр для мягкого рентгеновского диапазона спектра (λ > 120 Å). Оптическая схема спектрометра включает плоскую отражательную решетку скользящего падения с шагом, изменяющимся на апертуре по заданному закону (так называемую VLS-решетку), и широкополосное сферическое зеркало нормального падения на основе многослойной апериодической структуры Mo/Si. Обратная линейная дисперсия составляет в среднем ~5.5 Å/мм. Излучение регистрировалось при помощи матричного ПЗС-детектора (2048 × 1024 ячейки размером по 13 мкм). В лазерной плазме зарегистрированы линейчатые спектры многозарядных ионов LiIII и FV–FVII с пространственным разрешением ~26 мкм, экспериментально продемонстрирована спектральная разрешающая способность R ≈ 500.

Ключевые слова: мягкий рентгеновский диапазон, стигматический (изображающий) спектрометр, VLS-решетка, апериодическое многослойное зеркало, лазерная плазма.

Поступила в редакцию: 28.11.2016


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2017, 47:1, 54–57

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024