RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2017, том 47, номер 7, страницы 620–626 (Mi qe16640)

Активные элементы

Распределение усиления в объеме твердотельного активного элемента мощного лазера с диодной накачкой

Т. И. Гущикa, А. Е. Дракинa, Н. В. Дьячковa, В. В. Романовb

a Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, г. Москва
b ФГУП "Российский федеральный ядерный центр – ВНИИЭФ", г. Саров Нижегородской обл.

Аннотация: Предложена методика расчета пространственного профиля усиления в объеме твердотельного активного элемента высокоэнергетического лазера с накачкой диодными матрицами, учитывающая особенности диаграммы направленности излучения полупроводниковых лазеров. С помощью данной методики получен профиль усиления в активном элементе из неодимового стекла. На примере стержня прямоугольного сечения 4.5 × 4.5 × 25 см показано, что, варьируя параметры системы накачки, можно задавать профиль усиления, например, однородный по сечению (с уровнем неоднородности менее 2.5%), с максимумом в центре или в периферийных областях и при удельном энерговкладе ~1 Дж/см3.

Ключевые слова: твердотельный активный элемент лазера, диодная накачка, управление профилем усиления.

Поступила в редакцию: 23.03.2017
Исправленный вариант: 19.05.2017


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2017, 47:7, 620–626

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024